A Josephson technology system level experiment Ketchen, M. B. ; van der Hoeven, B. J. ; Matisoo, J. ; Greiner, J. H. ; Herrell, D. J. ; Wang, R. H. ; Guernsey, R. W. ; Anderson, C. J. ; Arnett, P. C. ; Bermon, S. ; Bickford, H. R. ; Bright, A. A. ; Geldermans, P. ; Gheewala, T. R. ; Grebe, K. R. ; Jones, H. C. ; Klein, M. ; Klepner, S. P. ; Moskowitz, P. A. ; Natan, M. ; Puroshothaman, S. ; Sokolowski, J. ; Stasiak, J. W. ; Walkman, D. P. ; Warnecke, A. J. ; Wu, C. T. ; Yogi, T. Abstract Publication: IEEE Electron Device Letters Pub Date: October 1981 DOI: 10.1109/EDL.1981.25426 Bibcode: 1981IEDL....2..262K